微機控制熒光磁粉探傷機

微機控制熒光磁粉探傷機/固定式型號:KM1-HCEW-2000庫號：M409028
一、概述
HCEW-2000型熒光磁粉探傷機，用于鐵磁性零部件表面及近表面裂紋缺陷的無|損檢測。
通過本機磁檢測，可在不破壞被檢測零件材質、不影響被檢測零件使用性能的前提下，檢測出具有隱性裂紋缺陷的零部件，是零部件制造企業產品|質量管控的質量檢測設備。
、性能特點
●適用范圍
軸棒類齒輪軸、環形件全檢測，亦可對異形件進行檢測。
●
固定立式機電一體、遮光布簾暗室結構設計。
●
采用工業可編程序控制器PLC（歐姆龍）為對設備進行集中控制、能按規定程序完成除上下料、觀察以外的探傷工藝過程；另具有衰減法退磁能。
●
設備的檢測工藝流程既可自動操作，又可對每個功能手動單步操作。
●磁化方式多樣
設備通過對周、縱向開關的“通/斷”可以有單周向磁化、單縱向磁化、周縱向復合磁化等多種磁化方
式，周、縱向磁化電流分別可調。
●
設備采用隔離變壓器向周、縱向磁化裝置提供36V電源，低電壓輸出。
●30%暫載率。
●
1、設備控制主控制面板前置，可擺動調節角度與腳踏開關協同控制。
2、配有可調V型托塊，可根據被檢測件直徑調節高，便于對被檢測件的支承檢測。
3、磁化位配有透明檔液板，不會遮檔視線。
4、配有氣動噴，可對設備吹掃清潔。
5、整體噴塑。
三、設計制造標準
3.1、用戶現場和需方實際探傷工藝要求。
3.2、磁粉探傷機《GB/T15822.3-2005無|損檢測磁粉檢測第3部分：設備標準》。
3.3、機械工業部行業磁粉探傷機《JB/T8290-2011》標準。
四、被檢測零件技術要求
4.1、尺寸范圍
齒輪軸等軸棒類及環盤類零件：直徑在250mm以內、長度700mm以內均可檢測。
4.2、外觀質量
4.2.1、工件加工完畢后產品表面無|劃|痕、磕碰傷，加工中不允許損壞零件表面。
4.2.1、表面無鍍層、噴塑或漆層，無氧化皮、油污等雜質。
技術參數
序號名稱說明
1輸入電源380V50HZ三相四線80A（瞬時2S）
2氣源氣壓0.4--0.6MPa（用戶自備壓縮氣源）
3輸出電流周向：0─2000A（連續可調，帶斷電相位控制）
縱向：0─16000AT（連續可調，帶斷電相位控制）
4磁化方式
周向磁化、縱向磁化、復合磁化；
周向工件零件采用通電法、環類零件采用導體法，
縱向采用線圈感應法。
5操作方式自動控制和手動操作
含主控制面板、腳踏開關。
6極間距0-700mm可調
7夾緊方式氣缸氣動夾緊（氣源用戶自備）
8磁化線圈雙線圈，左右固定
9暫載率30%
10退磁效果Br≤0.2mT（衰減式退磁）
11靈敏度A型30/100試片清晰顯示
12暗室框架式，滑動雙開簾。
13紫外線強度距工件表面380mm處不小于4000μw/cm2
14照明燈×1
15排風扇×1
九、設備成套性及其特點
9.1、設備成套性
序號名稱數量
1HCEW-2000型設備主體一套
2HCEW-2000型功能控制系統一套
3周向0-2000A磁化系統一套
4縱向0-16000AT磁化系統一套
5氣缸夾緊裝置一套
6工件支承托塊（V型）二塊
7尾電極移動裝置一套
8退磁系統一套
9磁懸液噴淋及回收系統一套
10暗室組件一套
11LED紫外線探傷燈一臺
12附件（見附件表）一套