PIND SD 顆粒碰撞噪聲測試儀4511M4-R

美國SD公司的顆粒碰撞噪聲檢測儀用于電子元器件封裝后，對器件內多余粒子碰撞噪聲檢試驗，目的在于檢測器件封裝腔體內存在的自由粒子，是一種非破壞性實驗。 用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領域的繼電器等電子元器件封裝內的多余物松散顆粒。

工作原理：顆粒碰撞噪聲檢測（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一種對多余物檢驗的有效手段。其原理是利用振動臺產生一系列的機械沖擊和振動，通過沖擊使被束縛在產品中的顆粒（即多余物）松 動，再通過一定頻率的振動，使多余物在系統內產生位移。活動的多余物在產品中發生位移的過程，是多余物相對產品殼體的滑動和撞擊的一個隨機組合過程。在這個過程中，將產生應力彈性波和聲波。這兩種波在產品殼體中傳播并形成混響信號，這個混響信號被定義為位移信號。采用壓電傳感器拾取到位移信號后，經前置放大器放大，位移信號由檢測裝置的主機采集、處理并顯示。檢測人員可以依據顯示的信號波形判定出信號性質，以此得出檢測結論。

選型說明：每種型號的顆粒碰撞噪聲檢測儀都包括：控制器，振動臺，傳感器，靈敏度測試單元，軟件，示波器，電纜，耗材及相關文件。其型號選擇主要根據被測件的重量和外型尺寸而定，我們的標準配置采用的是M230振動臺可測負載重量，全頻率范圍內為200克，換能器臺面直徑為22mm~150mm，換能器因在其中心區域50%面積處靈敏度，故實際臺面選擇時換能器面積要略大于被測件  扁平面面積。

設備用途：用于電子元器件封裝后，對器件內多余粒子碰撞噪聲檢測試驗，目的在于檢測器件封裝腔體內存在的自由粒子，是一種非破壞性實驗。用來測試電器零件從而提高電器零件的可靠性。

適用領域：用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航空、航天及相關軍事領域的繼電器等電子元器件封裝內的多余物松散顆粒。

振動規格

頻率范圍：25至250Hz，正弦曲線

振幅：5.0至20.0’G’峰值，電腦顯示

振幅程序分辨率：0.1’G’

重復性：0.5’G’峰值（大于5g），電腦控制

D.U.T.載荷：  200g(整個范圍)

沖擊規格

方法：沖擊臺反饋控制；自適應D.U.T.載荷沖擊

振幅：500至1500’G’可編程

重復性：50’G’內

脈沖寬度：<100微秒在50%振幅下

90-150微秒在10%振幅下

沖擊延遲：程序可調

D.U.T.載荷：振幅隨負載輕微下降

  能力300克在1000g振幅下

      (可能需要改變程序值來加大載荷)

  載荷規格

振動臺極限：300克

振動極限：200克 W/傳感器（40-250Hz）

沖擊極限：300克（可能需要增加程序值）

聲波檢測電路：60dB增益+/- 2 dB，150-160KHz軟件帶寬

閾值：動態調整

沖擊傳感器規格

靈敏度：-77.5 dB +/- 3 dB re 1V per 微巴 at 155 kHz

按ANSI2.1-1988標準水下測量。

電纜：整體4通道全屏蔽柔性電纜

電磁干擾保護：所有電纜全法拉第屏蔽

加速度計規格

靈敏度：2.1 pc/G +/- 10% 在100 Hz

安裝位置：裝于沖擊傳感器內

STU傳感器靈敏度：-77.5 dB +/- 3 dB ref 1V per Microbar at 155 kHz（按ANSI2.1-1988標準測量）

外部STU脈沖器輸出：250微伏+/- 20%