高精度0.01μ影像測量儀EVM-3020T ZNC

高精度0.01μ影像測量儀EVM-3020T ZNC是在測量投影儀的基礎上進行的一次質的飛躍，它將工業計量方式從傳統的光學投影對位提升到了依托于數位影像時代而產生的計算機屏幕測量。換句話說影像測量儀是依托于計算機屏幕測量技術和*的空間幾何運算軟件而存在的。

高精度0.01μ影像測量儀EVM-3020T ZNC技術參數

機臺行程(X,Y) ：300 mm×200 mm×200mm。

分辨率：0.00001mm（優良式光柵）

X、Y軸線性精度：U=( 2.5+L/200 )μm

重復精度：±0.002 mm

載物臺尺寸：460 mm×360 mm

玻璃臺尺寸：340 mm×240 mm。

承載重量：20 kg。

工件限高：200mm

影像系統：日本SONY芯片47萬像素高解析工業彩色攝影機。

影像卡：Easson專業影像卡。

物鏡：F-1高精度全閉環自動變倍光學鏡頭

光學放大倍率0.75×-4.5×

影像放大倍率：30-150×

照明系統：F-100 40路全功能光源（帶激光輔助對焦）。

傳動方式：光桿傳動＋雙導軌。

操作方式：X、Y 手輪＋快移  Z電動。

主機外形尺寸：690 mm×720mm×890 mm

整機外形尺寸：1350 mm×800 mm×1700 mm

機臺基座、Z軸立柱：高精度花崗巖平臺

量測軟件：光學視覺量測軟件Easson 2D ---- 自主開發，免費升級。

數據輸出：測量數據Word(doc)、Excel(xls)

物件放大攝像圖形(bmp、jpg)、二維圖形AutoCAD(dxf)

SPC分析，數據Word(doc格式)、Excel(xls格式)

數據導入：二維圖形AutoCAD(dxf))

電源：AC 220±5V、50Hz

使用環境：溫度 20±3 ℃，濕度35%-65%

探針測量：

1.測針工作原理：

  測針是測量系統的組成部分，當測針的測針頭與被測工件接觸時，測針頭變化帶動測頭機構產生信號，在經過處理得出測量結果，達到檢測目的。

2.測針測量誤差來源

環境溫濕度，測針組成材料的剛度，測針頭的精度，測針頭與測針柄部螺紋同軸度，測針柄螺紋的精度，測針頭與被測工件接觸位置。

建議在精密測量時，應對測針進行標定，否則將降低測量精度。

3.測針選擇原則

1.測球直徑盡量大，已減少被測工件表面粗糙度對檢測結果的影響。

2.測針盡量短，測針超短其彎曲或變形量越少，精度越高。

3.接頭盡量減少，每增加一個連接點，便增加了一個潛在的彎曲和變形點。

4.測針連接形式

螺紋或直柄連接

5.球形螺紋連接直測針的基本機構

 測針頭、測針桿、測針柄、加長桿、防撞保護座等。