日本電子掃描電鏡JSM-IT300

全新電子光學系統的高質量成像

JSM-IT300 提供高畫質圖像，能滿足您對 W-SEM 機型的期待，新的鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質量有了顯著的提高。

二次電子像

通過高真空二次電子像觀察到的蝴蝶鱗粉。可以用更高的分辨率觀察微觀結構。

背散射電子像

通過在低加速電壓下觀察背散射電子成份像，能觀察到每個碳化鎢顆粒的通道襯度。

新的掃描系統使低加速電壓下的圖像質量更高

幀累積法能抑制荷電效應，對極易充電的樣品可以輕松地進行觀察。

新的掃描方式能減輕樣品的帶電，不易受到樣品漂移的影響，即使是容易充電的樣品，高倍率下的圖像質量也得到了顯著的提高。

EDS 集成化 EDS 一觸式分析

JSM-IT300A/LA

JEOL 是世界上一家集開發、制造和銷售于一身的 SEM 和 EDS 制造商。在觀察和分析過程中，輕觸屏幕即可進行分析。

一觸式分析

在 SEM 的操作界面上，只需輕觸圖標就可以執行基本的分析功能。JEOL 的 SEM 和 EDS 一體化集成，提高了通量和易用性。

基本的分析操作，在 SEM 的 GUI 上一觸即成。

在 SEM 的 GUI 上，輕觸屏幕即可執行基本的分析操作。