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電子探針-面分析

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公司名稱武漢上譜分析科技有限責(zé)任公司
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廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2022/10/9 9:45:20
訪問次數(shù)306

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公司介紹主營產(chǎn)品

武漢上譜分析成立于2013年1月，已獲得CMA資質(zhì)認(rèn)證，GeoPT、G-Probe國際盲樣分析檢驗(yàn)水平，是國內(nèi)提供專業(yè)地球化學(xué)綜合分析測試服務(wù)的實(shí)驗(yàn)室，提供碎樣、磨片、單礦物分選、制靶、透反射、陰極發(fā)光、LA-ICP-MS各類礦物U-Pb定年、LA-ICP-MS微區(qū)原位微量元素分析、LA-MC-ICP-MS微區(qū)原位同位素比值分析、ICP-MS 微量元素分析、MC-ICP-MS 同位素比值分析、XRF主量元素分析、二價(jià)鐵含量分析，EPMA電子探針分析等測試服務(wù)。公司技術(shù)人員來自地質(zhì)院校，從業(yè)經(jīng)驗(yàn)豐富，同時(shí)聘請地化專家團(tuán)隊(duì)作為技術(shù)顧問，全力為客戶提供專業(yè)的分析測試服務(wù)。

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產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

測試項(xiàng)目：電子探針測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片測試周期：5-10個(gè)工作日，可提供樣品測試加急服務(wù)

電子探針-面分析產(chǎn)品信息

測試項(xiàng)目：電子探針
測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片
測試周期：5-10個(gè)工作日，可提供樣品測試加急服務(wù)。
送樣要求：1、靶、探針片等樣品表面平整、光滑，避免影響數(shù)據(jù)質(zhì)量；2、提前將測試點(diǎn)位用半圓圈起，并將各點(diǎn)位直線連接以便測試時(shí)快速定位，具體請咨詢相關(guān)技術(shù)人員。
完成標(biāo)準(zhǔn)：儀器狀態(tài)良好，監(jiān)控標(biāo)樣測試值在允許誤差范圍內(nèi)。
方法描述：

24.1 EPMA方法說明

儀器型號為日本電子（JEOL）JXA8230電流：1*10^-⁷A、電壓：20kV
束斑：根據(jù)面掃區(qū)域大小及圖像分辨率適當(dāng)選擇（分辨率＞256*256）
采樣時(shí)間：根據(jù)束斑及分辨率計(jì)算（≈2小時(shí)）
以上為常規(guī)測試條件，如需高精度面掃圖像可根據(jù)需求進(jìn)行調(diào)整。
硅酸鹽礦物各元素含量校正標(biāo)樣均為天然礦物，部分金屬及硫化物元素含量校正標(biāo)樣為純物質(zhì)：Au、Ag、Co、V，其余為天然礦物標(biāo)樣。