掃描近場光學顯微鏡（SNOM）

傳統光學顯微鏡的空間分辨率受限于光學衍射極限，分辨率為波長的一半λ/2。掃描近場光學顯微鏡 (SNOM或NSOM) 則可以突破衍射極限，實現了60-100nm的超高光學空間分辨率。近場光學技術應用領域非常廣，無需特殊樣品制備。

WITec公司的 alpha300 S近場光學顯微鏡采用硅基中空懸臂式近場探針，輕松實現超衍射極限的光學成像。在近場光學圖像采集的過程中，可同時獲得樣品的AFM表面形貌，實現近場光學信息與樣品形貌的相關分析。WITec近場光學系統采用成熟穩定的AFM激光偏轉反饋系統同來控制探針與樣品之間的距離。

與熒光技術聯用，近場光學系統可實現單分子檢測。

超高分辨顯微鏡

alpha300 S近場顯微鏡是一種純近場光學顯微鏡，在很多樣品上都可獲得一致的超高分辨率，并且擁有透射與反射式兩種模式。 該近場光學顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發光源。

alpha300 S系統采用軟件可控的快速自動進針及調節等自動測試流程，操作非常簡便、直觀。

SNOM近場模式采用特定的顯微物鏡，便于探針安裝與定位。alpha300 S顯微鏡不僅與所有AFM工作模式兼容，還可以配備透射、反射及熒光等標準光學模式。

由于近場光學信號極其微弱，alpha300 S近場光學顯微鏡配備高靈敏單光子計數的光電倍增管或雪崩二極管，并同時提供檢測器快速超載保護。更重要的是，UHTS光譜儀可與alpha300 S系統兼容，實現近場光譜與成像測量。

WITec 的 SNOM 懸臂技術

[A] SNOM探針和樣品的光學圖像(俯視圖)

[B] 探針側視圖

[C] SNOM探針的SEM圖像

[D] SNOM探針的小孔SEM圖像

[E] 批量生產的SNOM探針

關鍵特性

· 突破衍射極限的空間光學分辨率（橫向約 60 nm)

· 的SNOM探針技術

· 在空氣與液體中均可使用

· 包含多種原子力與光學顯微鏡模式

· 非破壞性、無需標記的超高分辨成像技術，基本不需要樣品制備

· 可升級到關聯的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像

· 集成三種技術到一臺儀器上：共聚焦顯微鏡、AFM 和SNOM