球差場發射透射電子顯微鏡 HF5000

200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能

通過單極片實現0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。
透射電子顯微鏡除了延續了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自動校正功能，像差校正后的SEM圖像和對稱Dual SDD技術等特點。還融匯了透射電子顯微鏡HF系列中所積累的技術。
對于包括用戶在內的廣泛用戶，我們提供亞?級空間分辨率和高分析性能以及更多樣化的觀察和分析方法。

• ※

• 附帶第二顯示器（可選），顯示屏為嵌入式合成界面。

1. 標配日立生產的照射系統球差校正器（附自動校正功能）

2. 搭載具有高輝度、高穩定性的冷場FE電子槍

3. 鏡體和電源等的高穩定性使機體的性能大幅度提升

4. 觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時觀察原子分辨率SE圖像

5. 采用側面放入樣品的新型樣品臺結構以及樣品桿

6. 支持高立體角EDX*的對稱配置（對稱Dual SDD*）

7. 采用全新構造的機體外殼蓋

8. 配備日立生產的高性能樣品桿*

主要規格

機體尺寸/重量

安裝條件

購買之前，請設置預定安裝處測量振動、磁場和噪聲，如果超過容許值，請務必另行咨詢。
關于容許值，請另行咨詢。

• 備注

• *1：選項。*2：Windows是在美國以及其他國家的注冊的美國Microsoft Corp.商標。*3：規格、尺寸均根據廠家、型號和配置的不同而會有所不同。