晶體管遷移率測試系統

產品簡介

體管遷移率測試系統是評估半導體器件性能的核心工具，它通過精密測量載流子（電子/空穴）在電場作用下的遷移速率，直接反映材料的導電能力和器件的開關速度。該系統廣泛應用于新材料研發、制備工藝優化及產品質量控制等關鍵環節，是推動高性能芯片技術進步和保障半導體產業良率基礎裝備。通過高效的自動化測試與數據分析，它為科研創新和大規模生產提供了至關重要的參數依據。

產品特點

□  利用半導體參數分析儀進行遷移率測試；

□  電流分辨率: 10 fA；

□ 電壓分辨率：100 nV；

□ 電壓范圍：-200 V 至 200 V；

□ 直流電流量程：-1 A 至 1 A；

□ SMU通道數量: 1-3可選；支持±3A脈沖電流；

□ 可以1.8MS/s的高速采集速率進行高精度測量；

□ 支持變溫遷移率測試系統；

□ 支持顯微系統耦合；

□ 支持光場耦合。