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Optikos OpTest®光學(xué)測量與測試系統(tǒng)

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公司名稱北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
品牌
型號
所在地北京市
廠商性質(zhì)其他
更新時間2026/5/10 11:47:30
訪問次數(shù)47

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北京吳然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年，專業(yè)代理歐美(德國、瑞士、美國、波蘭等)高精度的光學(xué)檢測設(shè)備，致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的全服務(wù)。主要包括:光學(xué)檢測產(chǎn)品:應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)、可調(diào)相位延遲波片等;激光檢測產(chǎn)品:激光功率計、能量計、光束質(zhì)量分析儀、M2測試儀等;集成系統(tǒng)所需的激光器、步進位移平臺、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進片機、高速相機ICCD、像增強器300ps門控時間、FLIM、高精度脈沖延時器等。值得一提的是，近年來公司科研團隊自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀，CRD光腔衰蕩法高反測量儀，偏心曲率測量儀等產(chǎn)品，為今后的發(fā)展壯大奠定了堅實的基礎(chǔ)。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.

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Optikos OpTest®光學(xué)測量與測試系統(tǒng)

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OpTest®更專業(yè)的

通用光學(xué)成像測量與評價系統(tǒng)

無論您設(shè)計什么，都可以使用 OPTEST®系統(tǒng)進行測量

OpTest鏡頭測量系統(tǒng)集成了光學(xué)和光機工程領(lǐng)域的新技術(shù)與創(chuàng)新。市場上的其他產(chǎn)品通常基于通用的現(xiàn)成實驗室組件制造其系統(tǒng)，而Optikos解決方案的每一步都是量身定制的。OpTest系統(tǒng)由Optikos工程師專門為鏡頭測試設(shè)計的定制光學(xué)、機械和電子組件組成。

Optikos提供全面的鏡頭測試產(chǎn)品線。通過升級路徑和模塊，可擴展OpTest的測試能力，包括透射率、雜散光、無焦、有限共軛和紫外線測試等測量。

量身定制，滿足您的需求

Optikos不僅根據(jù)您的即時需求構(gòu)建光學(xué)測試系統(tǒng)，還為您提供簡單的升級路徑，以適應(yīng)需求的化。Optikos 的解決方案為您提供了技術(shù)和經(jīng)濟雙重優(yōu)勢：隨著您的應(yīng)用或業(yè)務(wù)發(fā)展，系統(tǒng)不會過時；它足夠靈活，能夠滿足您現(xiàn)在和未來的需求。

在眾多產(chǎn)品中，選擇適合您需求的組件至關(guān)重要，這些組件將為您提供靈活性。在接下來的光學(xué)測試部分中，您將了解到一系列產(chǎn)品，它們可以協(xié)同工作，以滿足您的應(yīng)用需求。通過描述和圖示，我們將解釋每款產(chǎn)品如何用于構(gòu)建完整的系統(tǒng)。量系統(tǒng)提供的解決方案，每一步都是定制化的。OpTest®融合了光學(xué)和光機工程領(lǐng)域的新技術(shù)與創(chuàng)新結(jié)果，由Optikos的工程師專門為鏡頭測試設(shè)計的定制光學(xué)元件、機械部件和電子元件組成，進而提供全面的鏡頭測試產(chǎn)品線，并提供升級方案和模塊，可擴展OpTest®計量功能，包括透射率、雜散光、無焦、有限共軛和紫外先測試等測量項目。

可構(gòu)建的光學(xué)系統(tǒng)測量方案

OpTest® 系統(tǒng)的模塊化組件，通過適當(dāng)?shù)呐渲每蛇m合測試大多數(shù)類型的鏡頭。選擇和配置適合被測光學(xué)系統(tǒng)的模塊需要明確被測光學(xué)系統(tǒng)的使用方式，包括：

1.   物與像的共軛位置關(guān)系
2.   光譜范圍
3.   空間分辨率
4.   物與像的尺寸以及系統(tǒng)的視場大小
5.   瞳孔直徑、f/數(shù)（光圈值）、數(shù)值孔徑
6.   外觀尺寸和光學(xué)系統(tǒng)布局

1) 物像共軛位置：大多數(shù)光學(xué)系統(tǒng)可分為三類：

2) 光譜范圍：OpTest® 系統(tǒng)支持圖像分析儀，可以在從UV 到LWIR波長范圍內(nèi)工作。

3) 空間分辨率：由所有光學(xué)系統(tǒng)在成像能力上都受到空間分辨率的限制。其中一個基本限制源于光的波動性。當(dāng)光的波動性限制光學(xué)系統(tǒng)的性能時，系統(tǒng)具有“衍射極限”分辨率。光學(xué)系統(tǒng)的性能也可能受到系統(tǒng)設(shè)計或制造精度的限制。光學(xué)測試系統(tǒng)的分辨率必須遠小于被測系統(tǒng)的分辨率。測試系統(tǒng)中的圖像分析儀還必須具有足夠的分辨率，以分析被測光學(xué)系統(tǒng)形成的圖像。

對于無限和有限共軛系統(tǒng)，空間分辨率以每毫米線對數(shù)（line-pairs per millimeter）表示。對于無焦系統(tǒng)，空間分辨率以每毫弧度周期數(shù)（cycles per milliradian）表示。

4）圖像和物體物體的大小及系統(tǒng)視場：測試系統(tǒng)必須能夠覆蓋被測系統(tǒng)在物方空間和像方空間的視場（FOV）。對于無限共軛系統(tǒng)，測試系統(tǒng)必須覆蓋物方空間的角視場以及全視場像高的線性尺寸。對于有限共軛測試，平移臺必須能夠覆蓋整個物高和像高，并設(shè)置所需的物距。對于測試無焦系統(tǒng)，需要跨越物方空間和像方空間的角視場。

5）光學(xué)直徑、F/數(shù)和數(shù)值孔徑：測試系統(tǒng)必須能夠在被測系統(tǒng)在物方空間覆蓋的被測系統(tǒng)的入瞳，并收集來自整個出瞳的光。對于被測的無限共軛和無焦系統(tǒng)，入瞳直徑設(shè)定了物方空間所需準(zhǔn)直光束的下限。像方空間的要求由無焦系統(tǒng)的出瞳直徑?jīng)Q定，而在測試無限或有限共軛系統(tǒng)時，光圈值(F/number)或數(shù)值孔徑(NA)是相關(guān)的。

6）外觀尺寸和系統(tǒng)布局：一個OpTest® 系統(tǒng)需要一個光學(xué)臺來放置系統(tǒng)組件，并采用折疊光路。被測光學(xué)系統(tǒng)可能體積龐大，或包含折疊光路及其它特殊的物理特性。OpTest® 系統(tǒng)要求該平臺上有中心距為
1英寸中的 ¼”-20 螺紋孔或中心距為25mm的M6螺紋孔。

關(guān)鍵詞：分析儀