XTJ-4400雙目兩檔變倍顯微鏡

XTJ-4400雙目兩檔變倍顯微鏡采用優良的無限遠光學系統與模塊化的功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察等功能。緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微鏡操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態的顯微觀察，是金屬學、礦物學、精密工程學研究的理想儀器。
二、技術特點
總放大倍數: 100 -1000倍，選配5X物鏡，可實現50-1000倍。
光學系統：無限遠色差校正光學系統（CSIS），像質更好，分辨率更高，觀察更舒適；
物鏡：無限遠、超長工作距專業金相物鏡50倍和100倍物鏡為半復消色差物鏡，圖像清 晰度大幅提高
目鏡：高眼點、超寬視野平場目鏡，PL10x/22mm，提供更加寬闊平坦的觀察空間并可加裝用于測量的各類測微尺；
觀察筒：鉸鏈式三目，視度可調節，45°傾斜，可進行攝影攝像，對觀察圖像進行采集和保存，配置電腦和專業軟件實現圖像分析；
調焦機構：低手位粗微調同軸調焦機構，帶有粗調松緊調節裝置，粗調每轉行程38mm，微調精度0.002mm；
照明系統：帶可變光闌和中心可調視場光闌的反射式柯拉照明器，自適應90V-240V寬電壓，6V30W進口鹵素燈，有效保護和延長鹵素燈泡的使用壽命；
照明系統PL L5X/0.22 工作距離：22.2 mm(選配)PL L5X/0.22 工作距離：22.2 mm(選配)