XGT-5200 X射線熒光分析儀

XGT-5200 X射線熒光分析儀

是專門針對WEEE(電氣電子產(chǎn)品廢棄物處理法令）和RoHS法令（限制電器電子產(chǎn)品使用有害物質(zhì)法令），快速地測定電子部件中的有害元素的含量。它能對電子電器產(chǎn)品中所含有的有害物質(zhì)如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進行快速而準確的分析。另外，通過CCD攝像頭可以非常清晰的觀察樣品表面，選取所需要的測試點，操作非常簡單。
 

XGT-5200 X射線熒光分析儀是一種可對加工材料和部件進行快速、無損掃描的檢測技術。分析時間只需要幾分鐘，靈敏度可以控制在低于100 ppm (0.01%)。XGT系統(tǒng)的檢測低限度可以低至2 ppm (0.0002%). 標準的1.2 mm 分析光速可以保證即使是非常小的電子元件和部件也可以獨立進行分析。

XGT-5200WR為WEEE/RoHS, ELV和中國RoHS特別設計，用于5元素(Pb/Cd/Cr/Hg/Br)高靈敏度測量并帶有X射線顯微鏡功能。

◆       400μm的X射線光斑，為有害元素的控制提供了高分辨率的掃描分析，適合小到IC集成塊單一引腳的分析。同時提供世界小光斑—10μm （可選配件）。

◆       SDD檢測器*地提高了分辨率和計數(shù)率，且無需使用液氮（LN2）。

◆       無需任何樣品制備或真空--樣品僅需要放置在樣品室中，即可在正常大氣壓力下分析。

◆       *整合的軟件可控制樣品的移動，獲取數(shù)據(jù)分析（包括定性和定量分析，并生成成分組成圖像）。

◆       樣品觀察采用同軸幾何呈象，可消除視差。

特征

◆ 同時顯示X射線熒光元素分布圖和X射線透過像

◆  適用RoHS/ELV/無鹵指令的分析

◆ 世界小光斑：Φ10μm（可選）

◆ 膜厚測量（微區(qū)多層膜厚參數(shù)法）、Excel數(shù)據(jù)管理軟件、多點分析（多1000點）

◆ 的操作性和簡便的維護性