Seica 立式雙面8針 V8 飛針測試儀

Seica ?Pilot^4D Line  飛針測試機

Pilot^4D V8 飛針測試機是飛針測試領域中的產品，它*的測試手段可以滿足使用者的需求：超高的測試速度、適應小批量到中等批量的測試要求、全測試覆蓋率和柔性的應用。這一切，不論是樣產還是生產業或維修客戶均可以應對各種類型的電路板的測試。更是由于它的立式結構，可以對UUT雙面同時運行飛針測試，凸顯出Pilot^4D V8的優勢！在保證了速度快、精度高、可靠性好以及測針重復性一致性的前提下，不但大大增加了測試量，而且也提高了使用的靈活性。同時，可以配置所有的移動測試資源，應用到 UUT測試中。這種一次性雙面飛針測試的解決方案是一項非常重大的技術創舉：它克服了臥式飛針測試系統不能同時進行雙面飛針測試的局限。Pilot^4D V8配備了8個可移動的電氣測試探針（每側各有4個），2個腳開焊（Openfix）移動探頭（每側各有1個），2個可移動的電源針（每側各有1個），因此，共有14個可移動的測試資源供用戶用于UUT的測試。而可以移動電源針帶給用戶的優勢在于：無需任何附加的固定電纜，即可以給UUT接入電源，從而輕松地對其進行功能測試！

Pilot^4D V8的測試方法和技術特點：

FNODE：UUT上的網絡信號分析

標準的模擬和數字的ICT測試

無矢量測試(JSCAN和OPENFIX), 測試各種IC的開路和短路

PWMON用于電路板加電后的網絡分析

用于檢測電路板印制線開路的導通測試

用于電路板上元器件缺失及反向的自動光學測試

選裝的功能測試和邊界掃描測試

用于數字器件的在板編程

熱掃描裝置 

可以將所有這些測試方法和技術置于一個測試程序中，這是一項重大創新，意味著可以將諸如與網絡有關聯的FNODE和PWMON等測量技術植入到程序中，用這種有效縮減編程和測試時間的方法，為用戶提供了故障測試覆蓋率高的行之有效并易于操作的全新理念。另外，由于Pilot^4D V8具有全部的測試資源，也是由于它具備了Seica所有飛針的配置（單面或雙面，2或 4飛針）因此，它可以運行在所有其它飛針測試系統上生成的任何程序。 

VIP平臺

Pilot^4D V8是基于Seica的VIP平臺，包括創新的VIVA測試軟件。測試程序僅需要3個步驟既可完成：“準備"、“確認"和“測試"。從軟件開始界面起即引導操作者通過一系列的直觀的、配有自我注釋環境的自動下行操作頁面進行編程，極大地減少了編程時間，并且將出錯降低至最小甚至消失。

對某些特殊應用，可以深度打開VIP平臺的內部結構，通過如RS232、USB接口、GPIB和PXI/XI協議接口等，將外部軟件和/ 或硬件輕而易舉地與之集成。